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CEM3000抗振防磁掃描電子顯微鏡確保高倍數下微觀特征(如60nm銀線、錫球焊接缺陷)清晰可辨,數據誤差率顯著降低,避免因成像模糊、數據失真導致的研發誤判、質檢漏檢等問題。從實驗室到生產線、從車間現場到狹小空間(手套箱/車廂),無論環境振動、磁場干擾如何變化,均能穩定輸出優于4nm(SE模式)的高清成像。
中圖儀器CEM3000系列4nm高清快檢掃描電鏡“空間適配+高效精準+定制適配”的高效檢測硬核基礎,結合“全周期、快響應、強專業”的售后服務體系,為采購、使用、維護提供全周期保障。
中圖儀器CEM3000系列掃描電鏡優于4nm空間分辨率(SE模式),60nm銀線等微尺度特征清晰呈現,最高20萬倍放大倍數,覆蓋納米級觀測需求。用戶可在CEM3000系列60nm銀線微尺度觀測掃描電鏡上搭配不同的探頭,同時接收多種信號,對樣品進行分析。
CEM3000高效精準掃描電鏡具有出色的電子光學系統,優于4nm的空間分辨率,保證了高放大倍數下的清晰成像,能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。通過加裝各類探頭和附件,滿足用戶的拓展性需求,這使其在材料科學、生命科學、納米技術、能源等多個領域得到了廣泛應用。
CEM3000系列快速低真空抽氣掃描電鏡整機經過深入優化,在結構方面尺寸利用率優,確保其出色的性能不再受環境尺寸的制約,無論是日常的工作桌面、還是狹小空間,CEM3000系列臺式掃描電鏡總能陪伴用戶出現在有需要的地方。
中圖儀器CEM3000系列鎢燈絲桌面掃描電鏡高分辨率成像+多種成像參數可選,微尺度特征(如60nm銀線)清晰呈現,滿足材料分析、缺陷檢測等專業級需求。
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