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中圖儀器SuperViewW1國產白光干涉輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內，確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。
中圖儀器SuperViewW1白光干涉非接觸表面形貌儀是利用光學干涉原理研制開發的超精細表面輪廓測量儀器。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
中圖儀器SuperViewW1白光干涉測量檢測儀以白光干涉技術原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
中圖儀器SuperViewW1白光干涉儀3d輪廓薄膜厚度儀應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數。它通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
中圖儀器SuperViewW1白光干涉三維形貌測量儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量，以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數。
中圖儀器SuperViewW1白光光學干涉儀品牌采用了掃描模塊和內部抗振設計，可實現高測量精度重復性和高粗糙度RMS重復性。采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統，保證測量精度高.
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