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  • SuperViewW1科研級(jí)三維白光干涉儀

    SuperViewW科研級(jí)三維白光干涉儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。

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    產(chǎn)品價(jià)格:960000
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2025-03-09
  • SuperViewW1微納米白光干涉三維形貌儀

    SuperViewW微納米白光干涉三維形貌儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2025-03-09
  • SuperViewW1中圖儀器白光干涉儀國(guó)產(chǎn)三維形貌儀

    中圖儀器白光干涉儀國(guó)產(chǎn)三維形貌儀SuperViewW是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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  • SuperViewW1納米級(jí)高精度白光干涉測(cè)量?jī)x

    SuperViewW納米級(jí)高精度白光干涉測(cè)量?jī)x用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車(chē)零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2025-03-09
  • SuperViewW1白光干涉非接觸式粗糙度測(cè)量?jī)x

    SuperViewW白光干涉非接觸式粗糙度測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)為原理,可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

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    產(chǎn)品價(jià)格:960000
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2025-03-09
  • SuperViewW1白光干涉微納米三維形貌一鍵測(cè)量?jī)x

    SuperViewW1白光干涉微納米三維形貌一鍵測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)為原理,獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點(diǎn),適用于從超光滑到粗糙、平面到弧面等各種表面類(lèi)型,讓3D測(cè)量變得簡(jiǎn)單。

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2025-03-09
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